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  剪切干涉术是一种光学干涉技术,可广泛应用于工业无损检测(NNT)领域。通过在被测物体表面施加动态或热负载,可探测材料内部结构的缺陷。

  该测量技术可用激光照射材料表面,可反射回的波面横向平移一定位移后同未平移的波面进行自我干涉形成干涉条纹。当被测材料由于开裂,剥离,内部包含异物,凹陷,受挤压,或是多层材料出现脱层等现象,则材料表面的干涉模式会出现局部不连续。

 
  与采用点击驱动反射镜的其他常规剪切干涉系统不同,黄金眼系统使用了电控的空间光调制器(SLM)来实现剪切和相移。
  该技术的优点在于避免了由于使用微型机械元件所带来的麻烦,大大提高了系统的实用性。全电子控制的SLM实现了极快速的剪切量调整和相移控制,同时也使对光波场的人员调整成为可能。测量场可以进行动态或温度加载。
      
  动态加载通过压电传感器(Piezo)来实现。压电传感器经真空机密贴合在材料表面,由软件控制产生高能量的振动。其振动频率可变,从而可与材料的机械性能相匹配。温度加载则可通过热光源的照射来实现。
 
系统配置:
“黄金眼”剪切干涉测量头;控制模块,包括:真空泵,功率放大器,频率发生器,激光驱动器,电源,笔记本电脑,软件。
可选配置:A型激光模块,压电传感器。
 
剪切测量头
尺寸:250*200*80mm
可测量范围:6*8cm…30*40cm
振动发生器:压电传感器
频率:100Hz…100KHz
Piezo振幅:±1μm
控制模块
尺寸:440*220*220mm
A型激光模块
尺寸:140*75*60mm
波长:806nm
功率(最大):1.8-6W